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WGJSTD-A介電常數(shù)及介質損耗測試儀是一款通用的，多用途，多量程的高頻阻抗測量儀器。它可測量高頻電感器，高頻電容器及各種諧振元件的品質因數(shù)（Q值）、電感量、電容量、分布電容、分布電感，也可測量高頻電路組件的有效串、并聯(lián)電阻、傳輸線的特征阻抗、電容器的損耗角正切值、電工材料的高頻介質損耗、介質常數(shù)等等。因而高頻Q表不但廣泛用于高頻電子元件和材料的生產、科研、品質管理等部門、也是高頻電子和通信實驗
特點：
◆ 優(yōu)化的測試電路設計使殘值更小
◆ 高頻信號采用數(shù)碼調諧器和頻率鎖定技術
◆ LED數(shù)字讀出品質因數(shù)，手動/自動量程切換
◆ 自動掃描被測件諧振點，標頻單鍵設置和鎖定，大大提高測試速度
信號源頻率范圍 | 25KHz-50MHz | Q測量范圍 | 1-999，自動/手動量程切換 |
信號源頻率覆蓋比 | 2000 ：1 | Q測量誤差 | ≤5%±滿度值的2% |
信號源頻率精度 | 1×10-4±1個字，5位有效數(shù) | Q測量工作誤差 | ≤7%±滿度值的2% |
電感測量范圍 | 0.1μH-1000mH | 調諧電容 | 主電容 40-500PF，微調電容±3PF |
電感測量誤差 | <5%±0.03μH | 調諧電容誤差/分辨率 | 主電容<1%,微調電容0.2pf |
標準測試頻點 | 全波段任意頻率下均可測試 | Q合格預置范圍 | 1-999聲光提示 |
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